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电子器件的静电电阻在下降，静电控制电压也在下降。现在可以通过高精度测量 100V 或以下的电荷，从 0.1V 开始测量，这是传统型号难以测量的。此外，通过缩小测量区域，可以测量 LSI 封装表面等狭窄区域。
特征
您可以测量导致静电破坏的低电位静电。
添加了新的量程切换功能，可以测量微小的电位。
通过缩短测量距离，可以缩小测量区域，测量约20平方毫米的面积，可以高精度测量小型电子设备的表面电位。
显示器和探测器是分开的，这样您就可以在狭窄的空间内进行测量，并看到手边的测量值。
从小型电子元件的测量，可以测量宽物体的电位分布。
您可以在峰值保持测量和连续测量之间切换。
它具有内置的检测传感器故障诊断电路，并在发生故障时显示。（专利）
它具有睡眠模式功能，可防止因忘记关闭电源而导致电池消耗。
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